Почему сила трения не зависит от площади контакта: микронеровности, динамика стик-слип, предплавление льда и структурная сверхсмазываемость
Технологии ультрамикроскопического имиджинга в электронной микроскопии (ТЭМ/РЭМ): физика электронного пучка, преодолевающая дифракционный предел света